CN
EN
DE
JP
硅片表面缺陷检测
硅片表面缺陷检测
应用描述
硅片表面崩边、缺角、崩裂、碎片等缺陷检测。选用60°低角度环形光源，通过降低光源工作距离，使缺陷突显出来。
实物图
|
效果图
|
|
|
实物图
|
效果图
|
|
手机请直接输入：
座机前加区号：+86-0769-82716188-251
